JIS B2704-1 ERRATUM 1-2010 勘误表
作者:标准资料网 时间:2024-05-14 18:22:08 浏览:8594
来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:ERRATUM
【原文标准名称】:勘误表
【标准号】:JISB2704-1ERRATUM1-2010
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2010-12-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:J26
【国际标准分类号】:
【页数】:1P;A4
【正文语种】:日语
【原文标准名称】:勘误表
【标准号】:JISB2704-1ERRATUM1-2010
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2010-12-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:J26
【国际标准分类号】:
【页数】:1P;A4
【正文语种】:日语
下载地址: 点击此处下载
基本信息
| 标准名称： | 铸造碳化钨粉 |
| 英文名称： | Cast tungsten carbide powder |
| 中标分类： | 冶金 >> 粉末冶金 >> 金属与合金粉末 |
| ICS分类： | 冶金 >> 粉末冶金 |
| 替代情况： | 替代GB/T 2967-1989 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2008-06-09 |
| 实施日期： | 2008-12-01 |
| 首发日期： | 1982-03-22 |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 中国有色金属工业协会 |
| 提出单位： | 中国有色金属工业协会 |
| 归口单位： | 全国有色金属标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 株洲硬质合金集团有限公司 |
| 起草人： | 张汝南、马自省、杨建国、梁鸿 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2008-07-01 |
| 页数： | 9页 |
| 计划单号： | 20061975-T-610 |
| 书号： | 155066·1-32417 |
适用范围
本标准代替ＧＢ／Ｔ２９６７—１９８９《铸造碳化钨》。本标准规定了铸造碳化钨粉的要求、试验方法、检验规则与标志、包装、运输、贮存及订货单（或合同）内容。本标准适用于石油钻具、建材机械、甘蔗破碎刀具、粮食机械、造纸机械以及其他易磨损部件表面补强用的铸造碳化钨粉。本标准与ＧＢ／Ｔ２９６７—１９８９相比，主要有如下变动：
———标准名称改成《铸造碳化钨粉》；
———根据碳含量不同，增加了高碳铸造碳化钨粉；
———修改了产品的化学成分；
———根据粒度不同，将铸造碳化钨粉分为１０个牌号，将高碳铸造碳化钨粉分为６个牌号；
———增加了外观质量的要求；
———增加了松装密度的规定；
———增加了筛分检测方法；
———增加了附录Ａ。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。
ＧＢ／Ｔ１４７９ 金属粉末松装密度的测定 第一部分 漏斗法
ＧＢ／Ｔ１４８０ 金属粉末粒度组成的测定 干筛分法
ＧＢ／Ｔ３４８８ 硬质合金 显微组织的金相测定
ＧＢ／Ｔ４３２４．２９ 钨化学分析方法 重量法测定氯化挥发后残渣量
ＧＢ／Ｔ５１２４．１ 硬质合金化学分析方法 重量法测定总碳量
ＧＢ／Ｔ５１２４．２ 硬质合金化学分析方法 重量法测定游离（不溶）碳量
ＧＢ／Ｔ５３１４ 粉末冶金用粉末的取样方法
所属分类： 冶金 粉末冶金 金属与合金粉末 冶金 粉末冶金
【英文标准名称】:StandardTestMethodsforInsulationIntegrityandGroundPathContinuityofPhotovoltaicModules【原文标准名称】:光电器件模块的完整性绝缘和连续地面路径的标准试验方法
【标准号】:ASTME1462-2000(2006)
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2000
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:E44.09
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;光电器件;绝缘
【英文主题词】:dielectricvoltagewithstand;electricaltesting;groundpathcontinuity;insulationintegrity;insulationresistance;modules;photovoltaics;solarenergy
【摘要】:Thedesignofaphotovoltaicmoduleorsystemintendedtoprovidesafeconversionofthesunrsquo;radiantenergyintousefulelectricitymusttakeintoconsiderationthepossibilityofhazardshouldtheusercomeintocontactwiththeelectricalpotentialofthemodule.Thesetestmethodsdescribeproceduresforverifyingthatthedesignandconstructionofthemoduleorsystemarecapableofprovidingprotectionfromshockthroughnormalinstallationanduse.Atnolocationonthemoduleshouldthiselectricalpotentialbeaccessible,withtheobviousexceptionoftheintendedoutputleads.Thesetestmethodsdescribeproceduresfordeterminingtheabilityofthemoduletoprovideprotectionfromelectricalhazards.Theseproceduresmaybespecifiedaspartofaseriesofqualificationtestsinvolvingenvironmentalexposure,mechanicalstress,electricaloverload,oracceleratedlifetesting.Theseproceduresarenormallyintendedforuseondrymodules;however,thetestmodulesmaybeeitherwetordry,asindicatedbytheappropriateprotocol.Theseproceduresmaybeusedtoverifymoduleassemblyonaproductionline.Insulationresistanceandleakagecurrentarestrongfunctionsofmoduledimensions,ambientrelativehumidityandabsorbedwatervapor,andthegroundpathcontinuityprocedureisstronglyaffectedbythelocationofcontactsandtestleadstothemoduleframeandgroundingpoints.5.6.1Forthesereasons,itistheresponsibilityoftheuserofthesetestmethodstospecifythemaximumacceptableleakagecurrentforthedielectricvoltagewithstandtest,andthemaximumacceptableresistanceforthegroundpathcontinuityprocedure.5.6.2Fiftyx03BC;Ahasbeencommonlyusedasthemaximumacceptableleakagecurrent(seeANSI/UL1703,Section26.1),and0.1x03A9;hasbeencommonlyusedasthemaximumacceptableresistance.Somemoduledesignsmaynotuseanyexternalmetalliccomponentsandthuslackagroundpointdesignatedbythemodulemanufacturer.Inthesecases,thegroundpathcontinuitytestisnotapplicable.1.1Thesetestmethodscoverproceduresfor(1)testingforcurrentleakagebetweentheelectricalcircuitofaphotovoltaicmoduleanditsexternalcomponentswhileauser-specifiedvoltageisappliedand(2)fortestingforpossiblemoduleinsulationbreakdown(dielectricvoltagewithstandtest).1.2Aprocedureisdescribedformeasuringtheinsulationresistancebetweentheelectricalcircuitofaphotovoltaicmoduleanditsexternalcomponents(insulationresistancetest).1.3Aprocedureisprovidedforverifyingthatelectricalcontinuityexistsbetweentheexposedexternalconductivesurfacesofthemodule,suchastheframe,structuralmembers,oredgeclosures,anditsgroundingpoint(groundpathcontinuitytest).1.4Thistestmethoddoesnotestablishpassorfaillevels.Thedeterminationofacceptableorunacceptableresultsisbeyondthescopeofthistestmethod.1.5ThereisnosimilarorequivalentISOstandard.Thisstandarddoesnotpurporttoaddressallofthesafetyconcerns,ifany,associatedwithitsuse.Itistheresponsibilityoftheuserofthisstandardtoestablishappropriatesafetyandhealthpracticesanddeterminetheapplicabilityofregulatorylimitationspriortouse.
【中国标准分类号】:L50
【国际标准分类号】:27_160
【页数】:4P.;A4
【正文语种】: